总线类测试系统的技术现状及发展方向

摘要：

归纳了当前测试系统的主流总线架构形式，对当前各种总线架构的测试系统性能及应用进行了分析，同时对当前测试系统的主要软件设计技术现状进行研究。在此基础上，提出了未来复杂测试系统研制的主要方向，要满足未来复杂测试任务需求，应加大应用LXI总线构建大型高精度混合型分布式测试系统。硬件方面，将VXI/PXI/PXI-E/PCI-E/USB3.0总线进行组网集成，满足大型应用测试中低速、高速、高精度的数据采集与传输测试需求；软件方面，应按照行业标准需求，研制功能完备、满足特定行业应用的软件系统。

关键词：测试系统、总线架构、网络分布式系统、软硬件设计技术、USB3.0总线

所属期刊栏目：13

分类号：TJ06(一般性问题)

资助基金：中国工程物理研究院总体工程研究所基地建设基金PXI-64FundPXI-64, Base Construction Fund, Institute of Systems Engineering, CAEP

在线出版日期：2016-11-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：151-159