电子辐照Kapton/Al薄膜力学性能退化规律与机理研究

摘要：

目的 为航天器用Kapton/A1薄膜材料的选用提供数据支撑和高性能Kapton/A1薄膜材料的研制提供理论支持.方法 用综合辐照试验装置对Kapton/A1薄膜材料进行电子辐照,用拉力试验机对Kapton/A1薄膜材料开展力学性能拉伸试验,用XPS对其成分和微观结构进行测试分析.结果 Kapton/A1薄膜材料的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加而降低,随着电子辐照注量的增加呈指数减小,在电子辐照下,薄膜材料分子键发生断裂和交联,C-CO和C-N键断裂发生脱氧和脱氮反应,C-H基团相对含量增大.结论 电子辐照将造成Kapton/A1薄膜材料力学性能降低,薄膜材料分子价健的断裂和交联是薄膜力学性能降低的主要原因.

关键词：薄膜材料、力学性能、电子辐照

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分类号：TJ04;V41(一般性问题)

资助基金：国家自然科学基金资助项目41174166,51273052Supported by the National Natural Science Foundation of China41174166,51273052

在线出版日期：2015-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：42-44,69