超高速瞬态测试系统软硬件构架设计研究

摘要：

目的：研究采样频率为2~10 MHz的64通道超高速同步瞬态测试系统的设计技术，实现两类典型超高速瞬态测试系统的硬件架构设计与软件架构设计。方法一类采用PXI-Express高带宽总线和高速RAID磁盘阵列架构构建持续流盘存储的连续高速测试系统，另一类是采用大容量板载数据缓存和PXI总线事后下载传输数据的架构构造高速测试系统。在高性能测试软件设计方面，主要应用生产者/消费者结构与有限状态机相结合的软件架构进行高性能测试系统软件设计。结果目前64通道下基于持续流盘架构的测试系统受数据记录的速度限制系统最高采样频率仅达2.5 MHz，而基于板载缓存数据与PXI总线事后下载数据架构的测试系统最高采样频率可达10 MHz，测试时长可达5s。结论当前两类架构的测试系统均可满足超高速瞬态测试需求，设计时需根据需求的最高采样频率决定使用的架构形式。

关键词：超高速瞬态测试系统、PXI Express总线、RAID阵列流盘、状态机

分类号：TJ02;TP751(一般性问题)

资助基金：中物院总体所专项基金PXI-64 FundSupported by Special Fund Project"PXI-64"of Institute of Systems Engineering, CAEP

在线出版日期：2015-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：81-86