GaAs MMIC功率放大器加速寿命试验及可靠性评估

摘要：

目的：评估新研GaAs微波单片集成电路（MMIC）功率放大器的可靠性指标。方法用图估法和范-蒙特福特检验法对失效数据进行分布假设检验，利用贝叶斯定理估算低温度应力下无失效数据的威布尔分布参数。结果在正常工作情况下，结温为150℃时，该器件特征寿命为833370 h，10年平均失效率为1.2472×10-7/h，平均寿命为738540 h，可靠度等于0.9时的可靠寿命为31年。结论该型器件在结温小于250℃时服从威布尔分布，结温为270℃时器件的失效机理已发生了变化，器件的各项可靠性指标满足使用要求。

关键词：加速寿命试验、GaAs MMIC、功率放大器、失效率、可靠性评估

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-03-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：24-29