X射线光电子能谱在HTPB推进剂老化机理研究中的应用

摘要：

采用X射线光电子能谱（XPS）法研究了HTPB推进剂在80℃热空气烘箱内分别老化0周、13周和24周的元素组成、化学价态及含量变化。通过拟合C，O，N，Cl等元素的XPS谱图，推测该推进剂在常温（25℃）贮存老化初期应是氧化交联，后期则出现降解断链，并认为NH4ClO4缓慢分解，攻击C??C不饱和双键，使得C??C双键含量降低是HTPB推进剂老化失效的主要原因。Al粉被包裹在推进剂粘合剂内部，XPS法未能检出Al粉。由于Al粉比较稳定，不参与推进剂老化过程，故XPS仍可用于HTPB推进剂老化机理研究。

关键词：X射线光电子能谱、固体推进剂、老化机理

分类号：TQ317.6

在线出版日期：2013-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：52-57