膜片组件贮存失效分析与加速贮存试验研究

摘要：

　　膜片组件是影响某伺服系统贮存可靠性的关键部组件，在分析膜片组件在库房贮存条件下失效机理的基础上，通过有限元建模分析，预测了膜片组件的贮存主要失效模式。研究设计了膜片组件恒定温度应力加速贮存试验方案并实施试验，对膜片组件加速贮存试验获得的区间数据进行了插值处理，并对处理后的试验数据进行统计分析，得到了贮存条件下膜片组件的贮存期评估结论。

关键词：膜片组件、贮存失效分析、加速贮存试验、恒定应力、统计分析

分类号：TJ760.89(火箭、导弹)

在线出版日期：2013-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：52-55