基于失效物理的微波组件贮存寿命加速试验及预测

摘要：

　　随着通信技术的发展和应用，微波器件的应用越来越广泛，尤其在军事装备领域，微波器件随处可见。大多数军事装备，大部分时间处于贮存、检测等非工作状态，为保证其战备完好性，装备的贮存可靠性评估显得尤为重要。中频对数放大系统是雷达接收机组件中的重要组成部分，通过研究微波组件的中频对数放大器部分的相关文献，得到了微波组件主要失效物理模型，确定其失效判据，并由高温加速寿命试验得到的试验数据，计算出组件激活能，最终完成组件在常温贮存下寿命的预测。

关键词：失效物理、中频对数放大器、加速寿命试验、寿命预测

分类号：TP802+.1(远动技术)

在线出版日期：2013-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：30-33,60