基于Bayes的电子元件高温贮存试验方法研究

摘要：

　　将工厂试验数据作为先验信息，应用Bayes方法确定电子元件高温贮存试验的试样数量，其结果明显少于GJB 345A-2005中规定的试样数量。基于不同试验结果，通过构建寿命模型和确定先验分布，分别得到了电子元件的寿命分布和失效概率的Bayes估计。

关键词：电子元件、高温贮存试验、加速寿命试验、无失效数据、Bayes估计

分类号：TN606(电子元件、组件)

在线出版日期：2013-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：20-22,46