一种TCON自动测试系统的设计与实现
目前,在实际生产中对于时序控制器的质检仍采用人工检测的方式,测试效率低下,严重制约了液晶显示器的后道生产.针对此问题,提出了一种新的自动测试方案,以围绕现场可编程门阵列设计的测试母板为核心,结合工控主机与可编程逻辑器件,在生产实践的基础上,给出了新型测试系统的具体设计思路,并且按照此设计思路制造了一套新型的测试系统.生产应用的结果表明,相比传统的测试方案,新型的测试系统在效率性,可靠性方面有着显著的优势,能极大提升检测效率,降低人工成本,具备良好的推广价值.
时序控制器、自动测试系统、液晶显示器、FPGA
TP271+.5(自动化技术及设备)
2023-02-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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