LAmbre封堵器封堵左心耳后密封盘周围漏与封堵器相关血栓发生的关系

摘要：

目的 探讨心房颤动(房颤)患者左心耳植入LAmbre封堵器后密封盘周围漏与封堵器相关血栓(DRT)发生的关系.方法 回顾性分析2018年5月至2021年6月在上海周浦医院接受LAmbre封堵器封堵左心耳治疗并完成经食管超声心动图复查的137例房颤患者,比较不同型号LAmbre封堵器植入后密封盘周围漏和DRT发生情况.结果 137例患者年龄为(74.9±9.2)岁,＞80岁(80～93岁)患者占40.1％,女性占38.7％,房颤血栓栓塞风险(CHA2DS2-VASc)评分、抗凝治疗出血风险评估(HAS-BLED)评分分别为(5.6±1.9)分、(2.7±1.6)分.左心耳植入LAmbre封堵器后1～3 mm密封盘周围漏最常见,仅1例植入3640型LAmbre患者密封盘周围漏为6 mm.比较植入不同型号封堵器后密封盘周围漏发生率,差异无统计学意义(P＞0.05).封堵盘周围漏与DRT发生无相关性.结论 心房颤动左心耳植入LAmbre封堵器后1～3 mm密封盘周围漏发生最常见,不同型号LAmbre封堵器间密封盘周围漏与DRT发生负相关.

关键词：心房颤动、LAmbre、左心耳、密封盘周围漏、封堵器相关血栓

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分类号：R654.2(外科学各论)

资助基金：上海市医学重点专科建设计划;上海市浦东新区科技发展基金事业单位民生科研专项项目;浦东新区卫生健康委高峰学科建设项目

在线出版日期：2022-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：442-445