透射电子显微镜与选区电子衍射对纳米材料的联合分析

摘要：

随着纳米材料的发展,必须建立起有效的手段来认识纳米粒子.透射电子显微镜(TEM)能在纳米尺度上实现对待测样品形貌、尺寸的分析；结合选区电子衍射(SAED),可以更进一步实现对待测样品的晶体结构、晶相组成的鉴定,从而提高样品分析的准确度和可靠性.本文综述了TEM与SAED联合分析的优点及其在微电子器件、高温结构材料、生物矿物等领域的研究进展,并对其未来的发展方向进行了展望.

关键词：透射电子显微镜(TEM)、选区电子衍射(SAED)、纳米材料

所属期刊栏目：33

分类号：O611.4(无机化学)

资助基金：国家自然科学基金项目81170649;广东省科技攻关项目2009B030801236

在线出版日期：2012-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：87-93,110