10.15988/j.cnki.1004-6941.2022.1.017
计算机片外Flash故障的研究
某产品计算机在低温测试过程中出现片外Flash故障,通过对芯片读写状态的分析,发现在低温状态下,芯片复位不充分产生的故障,深层次地分析Flash芯片的工作模式,利用冗余读操作,启动芯片内部状态机的运行,使芯片再次复位,解决此故障.
存储器;自检
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TP334.5(计算技术、计算机技术)
2022-02-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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2022-02-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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