10.15988/j.cnki.1004-6941.2020.5.027
裂隙灯显微镜校准方法的研究
本文介绍了基于放大率和分辨率测定校准裂隙灯显微镜的方法,在对总放大率误差、左右放大率相对误差校准的基础上,对影响裂隙灯显微镜成像质量的分辨率和裂隙像尺寸进行校准,建立了可溯源到国家长度基准的裂隙灯显微镜的校准装置,分析了上级定标和自身装置的不确定度来源.该装置的测量结果的相对扩展不确定度为1.7%,基本满足目前裂隙灯显微镜的校准要求.
裂隙灯显微镜、总放大率测定仪、光学分辨率板、不确定度、计量
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TG115.21+5.4(金属学与热处理)
2020-06-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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