基于ICP-OES法测定工业硅中铁含量的不确定度评定

摘要：

介绍了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定工业硅中铁的检测过程.阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间.发现测量重复性和工作曲线变动性是引起不确定度的主要因素.

关键词：工业硅、ICP-OES、铁含量、不确定度

所属期刊栏目：46

分类号：TB9(计量学)

在线出版日期：2019-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：112-115