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10.15988/j.cnki.1004-6941.2018.08.008

基于互耦测试的相控阵天线系统校准研究

引用
本文针对大型相控阵天线系统需要维护和不定期校准的问题,基于相控阵天线振子之间的互耦特性设计了一种通用的校准方法.相对于互耦校准法,文章解决了天线阵面的异形结构和介电常数的不一致性引起的校准偏差,具有更好的通用性;相对于其他方法不需要增加硬件适配,具有更简单的系统复杂度和更好的成本优势.文章通过理论分析和数学推导为该方法提供了支撑,并经过多阵面,多频点验证了该方法的有效性.该方法适用于大多数均匀直线相控阵天线系统,并可推广到平面阵列.

相控阵、互耦、自校准、外校准

45

TB9(计量学)

2018-09-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

27-30,33

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计量与测试技术

1004-6941

51-1412/TB

45

2018,45(8)

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