10.15988/j.cnki.1004-6941.2017.01.003
X-RAY镀层测厚仪检测及校正方法浅析
基于X-RAY荧光光谱方法的基础理论,简单分析了能量散射X-RAY荧光光谱分析法的工作原理,通过对准直器尺寸、测量时间、应用程式、基材等参数的选择,分析了X-RAY镀层测厚仪检测及校正的方法.结果表明,检测校正后的X-RAY镀层测厚仪,测量结果的相对误差、相对标准差小,且该方法对企业生产具有指导意义.
X-RAY镀层测厚仪、标准片、校正方法、相对误差、相对标准差
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P426.5+4(气象基本要素、大气现象)
2017-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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