10.3969/j.issn.1004-6941.2013.11.009
光波干涉法检定量具平面性及尺寸应用
平晶是目前用来检定计量器具工作面平面性或平行性的主要量具.本文简要介绍了利用平晶和光波干涉法检定量具平面度和平行性的示值误差的方法.
平晶、千分尺、量块
40
U4 ;TK4
2013-12-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
19,21
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10.3969/j.issn.1004-6941.2013.11.009
平晶、千分尺、量块
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U4 ;TK4
2013-12-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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19,21
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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