10.3969/j.issn.1004-6941.2009.03.018
IDDQ测试方法及发展
本文介绍了IDDQ电流测试方法的基本原理,IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法.现在IDDQ电流测试成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试不能发现的制造过程所产生的故障.以及随着深亚微米技术出现,IDDQ测试受到严峻的挑战.
测试技术、CMOS电路、深亚微米技术、IDDQ测试
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TN6;O14
2009-05-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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