10.3969/j.issn.1004-6941.2008.10.011
应变片式测试仪的设计分析
文章介绍了存储测试系统的发展及其现状,提出了一种小体积测试仪--电阻应变片式测试仪,同时给出了系统工作原理.文章通过对电阻应变片式测试仪弹性体结构设计的分析,介绍了提高测试仪灵敏度与精度的应力集中原则,对比了弹性体两种不同的结构设计,在施加相同压力时产生不同的应力形变的效果,指出了在设计应变片式测试仪的重要器件--弹性体,采用应力集中的重要性.
存储测试、弹性体、应力集中、ANSYS仿真
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TP2;TV3
2009-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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