存储器的测试技术

摘要：

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷.

关键词：存储器测试、功能故障模型、March算法、BIST

所属期刊栏目：32

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2005-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：25-26