关于光切显微镜的定度
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10.3969/j.issn.1004-6941.2002.05.006

关于光切显微镜的定度

引用
光切显微镜以光切原理为基础,能解决工件表面微小峰谷深度的测量问题,是测量表面粗糙度的专用仪器之一.光切显微镜一般测量RZ值大于0.8μm的工件.本文主要解决在使用光切显微镜时,首先要解决的问题一定度难的问题.

定度、C值、格值、RZ值

29

TH74(仪器、仪表)

2005-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共1页

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1004-6941

51-1412/TB

29

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