Ga-In共晶固定点复现及赋值研究

摘要：

次级固定点进一步分度温度计应用于温度校准已成为减小温度量值传递不确定度的重要方法.围绕Ga-In二元合金,以高复现水平为目标,详细介绍了大尺寸固定点容器研制、固定点灌注过程,开展了固定点复现性、亚配比剩余镓温坪验证实验研究;采用了切线交点法、均值法、三次多项式拟合法3种相变温度取值方法对Ga-In固定点进行了评价和分析,并使用3支标准铂电阻温度计对Ga-In共晶固定点温度进行了赋值.结果 表明:Ga-In共晶固定点温坪可持续20 h以上,复现性优于0.15mK;采用切线交点法赋值得到Ga-In共晶固定点相变温度为15.6494℃,扩展不确定度为0.76 mK(k =2).

关键词：计量学;90国际温标;Ga-In二元合金;微型共晶固定点;相变温度

所属期刊栏目：43

分类号：TB942(计量学)

资助基金：中国计量科学研究院基本科研业务费重点领域项目AKYZD2004-3

在线出版日期：2022-03-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：169-175