太赫兹阵列探测器响应度校准溯源研究

摘要：

提出了一种太赫兹阵列探测器响应度校准溯源方法.首先,使用阵列探测器的每一像元对太赫兹辐照场中心进行逐一扫描,识别有效像元、死像元和过热像元,并对有效像元响应值进行归一化处理,获得阵列探测器的相对辐照度响应值.其次,使用中心像元对太赫兹辐照场进行扫描测量,扫描总面积大于太赫兹光斑尺寸,保证太赫兹功率被完整测量,获得中心像元与其他有效像元的太赫兹功率响应值.最后,用标准太赫兹功率计标定高莱功率计,扩展太赫兹功率校准量限,实现微瓦级太赫兹辐射功率测量溯源,用高莱功率计测得的太赫兹辐射源总功率对阵列探测器测得的积分响应值进行校准,得到阵列探测器辐照度响应绝对值.对探测器进行测量校准和不确定度分析,测得辐照度响应度的相对扩展不确定度为Urel=20％(k=2),测量结果可溯源至国家太赫兹辐射功率标准.

关键词：计量学;太赫兹辐射功率;阵列探测器标定;响应度校准;不确定度分析

所属期刊栏目：42

分类号：TB96(计量学)

资助基金：国家重点研发计划;国家自然科学基金

在线出版日期：2021-11-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1265-1270