10.3969/j.issn.1000-1158.2021.03.14
粒子图像测速技术测量精度影响因素分析
对基于粒子图像测速(PIV)技术的瞬时全流场测量方法进行了综述.系统介绍了 PIV的工作原理、技术的关键环节(获取图像的品质)和影响测量精度主要因素(示踪粒子性能、光源性能、背景噪声、成像畸变、同步器时间分辨率及图像处理算法).基于这些分析,给出了示踪粒子性能的保障、成像组件的选择以及图像处理方法确定的具体建议.
计量学、全流场测量法、粒子图像测速、图像处理算法、光流算法
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TB937(计量学)
国家重点研发计划2019YFF0216102
2021-04-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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