Ga-In-Sn微型共晶点相变特性研究

摘要：

以Ga-In-Sn三元合金为研究对象,研制了可用于现场及在线标定的微型Ga-In-Sn共晶点容器,开展了3种不同配比对相变温度和温坪复现影响的研究.结果 表明:3种配比的共晶点温坪可持续1.2 ～2h,实验的复现性优于4.5 mK,合成扩展不确定度为9.3 mK(k=2),3种配比的共晶点相变温度平均值为10.748℃;在相同热工况下Ga-In-Sn合金发生共晶反应的相变温度不受配比的影响;改变合金熔体的降温速率可改变微型共晶点过冷度.

关键词：计量学、ITS-90国际温标、相变特性、镓铟锡三元合金、微型共晶点

所属期刊栏目：40

分类号：TB942(计量学)

资助基金：国家重点研发计划2017YFF02063,2017YFF0206303;国家自然科学基金51576181

在线出版日期：2019-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：421-426