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10.3969/j.issn.1000-1158.2019.03.11

阵列光电传感器的非线性校正

引用
阵列光电传感器在接近饱和时表现出非线性,但是可以通过阵列传感器的线性区的系数外推得到修正,而且只需在一个波长位置测得曝光量与A/D转换值的响应曲线,将能够推广到任意波长位置.为此,利用最小二乘法进行多项式拟合和软件的非线性校正,在同等硬件配置的条件下,增加了线阵传感器的线性区,延拓了传感器的动态范围.在整个动态范围内,系统测量误差可以减少到±2%.此非线性校正方法也非常适用于光电阵列传感器的光谱仪生产厂的强度定标校正.

计量学、阵列光电传感器、非线性校正、光谱响应、多项式拟合

40

TB96(计量学)

国家自然科学青年基金11605153;浙江工业大学创新性实验项目SYXM1741

2019-06-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

416-420

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1000-1158

11-1864/TB

40

2019,40(3)

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