近贴X射线成像系统调制传递特性联合检测方法

摘要：

利用光学调制传递函数评价原理，在建立了各个成像子系统信号传递关系的基础上，提出了一种近贴式X射线成像光学调制传递特性检测方法。从像增强器约束、射线源约束和噪声约束这3个角度对近贴式X射线成像系统光学调制传递函数进行理论定标。将近贴式X射线成像系统后端的CCD望远系统换成CCD显微系统并对不同空间分辨率的铅栅进行成像与对比度拟合。实验结果表明：时域均衡可以有效提高拟合精度。其拟合结果表明空间分辨率为10线对/mm时其调制传递函数仍有10豫，与理论定标结果基本一致。故传统近贴式X射线成像系统的望远光学镜头分辨率才是真正的成像瓶颈。

关键词：计量学、X射线、电子光学系统、调制传递函数、分辨率

所属期刊栏目：37

分类号：TB96(计量学)

资助基金：国家技术创新基金13C26212201166；吉林省青年科研基金20140520122JH

在线出版日期：2016-11-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：489-493