相控阵超声一维阵列系统焦点形态研究

摘要：

为了有效评价相控阵设备的功能和性能,有效保护国内用户的权益,从如何有效评价相控阵超声设备的角度出发,研究了聚焦深度、偏转角度和阵列孔径等因素变化时对焦点形态的影响.总结出了相控阵超声设备应用中的一些共性特点,为有效可靠地校准相控阵超声设备提供了理论支持.

关键词：计量学、相控阵超声、一维阵列、焦点形态、性能评价

所属期刊栏目：31

分类号：TB95(计量学)

在线出版日期：2010-05-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：32-35