10.3321/j.issn:1000-1158.2007.01.017
伪邻近点法分析薄膜磁致伸缩测试中异常数据
采用伪邻近点法,对薄膜磁致伸缩系数测试试验中得到的不同性质的测试数据分别进行处理,发现它们具有确定性的特征,从而可得测试中异常状态基本由系统本身引起,这样通过调节及改进测试系统就能减小其影响,得到较为可靠的光点位移数据.
计量学、磁致伸缩、伪邻近点法、自噪声、延时重构、嵌入维数
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TM972
国家自然科学基金50271014
2007-03-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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