结合格局检测与局部搜索的故障数据缩减方法

摘要：

针对集成电路故障诊断中故障数据缩减方法N-cover存在冗余故障数据的问题,提出了结合格局检测与局部搜索的故障数据缩减方法.通过分析故障数据与端口覆盖次数的逻辑关系,提出了故障频率和故障覆盖度的概念以指导局部搜索.同时,结合格局检测策略以避免重复搜索,进而通过减少冗余迭代来增加搜索广度.在标准测试用例上的实验结果表明,与现有方法相比,本文方法可有效缩减故障数据数目并提高求解效率.

关键词：人工智能;故障诊断;电路测试;故障数据;局部搜索;格局检测

所属期刊栏目：51

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2021-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：2144-2153