基于独立分量分析的光电耦合器件可靠性时域筛选方法

摘要：

针对目前光电耦合器件可靠性筛选方法的不足,提出了用独立分量分析(ICA)的方法对噪声信号进行时域分析,并利用ICA中峭度和熵两个参量讨论了各种基本噪声的特性.根据这些特性,应用ICA方法把各基本噪声从噪声信号中分离出来,并给出了时域下器件的可靠性分类规则.

关键词：半导体技术、光电耦合器件、可靠性、低频噪声、时域分析、独立分量分析、虚拟仪器

所属期刊栏目：38

分类号：TN303(半导体技术)

资助基金：吉林省教育厅科研计划项目2005082

在线出版日期：2008-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1242-1247