激光成像仪器中的行、场扫描同步控制

摘要：

为了提高光点的位置精度,从而提高成像质量,提出了一种基于PWM控制的双光栅反馈的控制方案.基于数字PID原理,利用微处理器和H桥组件LMD18200,构建了全数字化的双芯片同步系统,实现了水平光学扫描和由直流力矩电机驱动的垂直扫描的同步控制.该系统结构简单,控制参数完全由软件设定,调整方便.自检方格测试结果证明,相对于开环步进电机驱动方法,同步控制精度从±50μm提高到±20μm.

关键词：自动控制技术、激光扫描、PWM、同步精度、数字PID、行、场扫描、双芯片

所属期刊栏目：36

分类号：TP273.2(自动化技术及设备)

资助基金：国家科技攻关计划96-B11-05-02-02;吉林省科技发展计划20020322

在线出版日期：2006-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：736-739