10.13413/j.cnki.jdxblxb.2019373
新型3D合金屏蔽效能的MCNP模拟
用Monte Carlo程序(MCNP)模拟研究不同掺杂组分与不同掺杂质量分数合金对低能X射线谱的屏蔽效能.模拟结果表明:合金的屏蔽效能与掺杂组分原子序数呈正相关,与掺杂质量分数呈正相关(ΔZ>0)或负相关(ΔZ<0);ΔZ绝对值越大,合金的屏蔽效能变化越大,且变化幅度与掺杂质量分数呈正相关;TaW合金的屏蔽效能最好,掺杂质量分数的变化对其屏蔽性能影响最小;在低能能谱范围内,不同能量X射线透射率的MCNP模拟结果与实验结果基本一致.
MonteCarlo模拟、低能X射线谱、屏蔽效能、掺杂质量分数、掺杂组分原子序数
58
O571.33(原子核物理学、高能物理学)
装备预研领域基金批准号;6140A24030311;6140A24020105
2020-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
988-991