10.13413/j.cnki.jdxblxb.2017.01.25
磁控溅射ZnO薄膜的三阶非线性光学特性
采用磁控溅射技术在SiO 2衬底上制备ZnO薄膜,并通过X射线衍射仪、原子力显微镜、紫外-可见分光光度计和荧光光谱仪对薄膜的晶体结构、表面形貌、带隙宽度和光致发光性质进行测试表征,结合飞秒激光(波长为800 nm,脉宽50 fs)和Z扫描方法测量该薄膜的三阶非线性光学特性.结果表明,其三阶非线性折射率和非线性吸收系数均为正值,分别为3.50×10-18 m2/W和2.88×10-11 m/W.
磁控溅射、氧化锌薄膜、三阶非线性光学、Z扫描
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O437(光学)
国家自然科学基金20873052;吉林省教育厅"十二五"科学技术研究项目2013499
2017-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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