10.13413/j.cnki.jdxblxb.2016.05.27
谱聚类与混沌免疫相结合的软件缺陷分析算法
针对谱聚类算法中 K-means 处理无标识软件度量元数据易陷入局部最优的问题,提出一种新的混沌免疫聚类算法。该方法在免疫克隆选择算法的框架下,设计抗体亲和度计算方法用于免疫克隆聚类中心的评价,并给出分层混沌变异算子,进一步提高了无标识软件度量元数据的预测性能。仿真实验验证了算法的有效性。
软件缺陷预测、软件度量元、混沌理论、谱聚类
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TP311(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金61472072
2016-10-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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