谱聚类与混沌免疫相结合的软件缺陷分析算法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.13413/j.cnki.jdxblxb.2016.05.27

谱聚类与混沌免疫相结合的软件缺陷分析算法

引用
针对谱聚类算法中 K-means 处理无标识软件度量元数据易陷入局部最优的问题,提出一种新的混沌免疫聚类算法。该方法在免疫克隆选择算法的框架下,设计抗体亲和度计算方法用于免疫克隆聚类中心的评价,并给出分层混沌变异算子,进一步提高了无标识软件度量元数据的预测性能。仿真实验验证了算法的有效性。

软件缺陷预测、软件度量元、混沌理论、谱聚类

54

TP311(计算技术、计算机技术)

国家自然科学基金61472072

2016-10-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

1082-1086

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

吉林大学学报(理学版)

1671-5489

22-1340/O

54

2016,54(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn