简单半序约束下多个正态总体分布参数的Bayes估计与等值检验
运用Bayes方法讨论多个正态总体均值与标准差比在简单半序约束下的估计问题及如下等值检验问题:H0∶μ1=…=μkV.s.H1∶μ1≤…≤μk,μ1≥μk,并用Gibbs抽样和Metropolis-Hastings方法给出了上述问题的数值模拟.
半序约束、正态分布、Bayes估计、Gibbs抽样、Metropolis-Hastings方法
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O212.1(概率论与数理统计)
国家自然科学基金J1030101
2013-03-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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