一种可实现非均匀校正和盲元补偿的像元ADC

摘要：

像元ADC可将红外探测器的电流信号直接转换成对应数字量,在像元阵列之间以数字的方式进行传输和最终输出.本文设计了一种可实现非均匀校正和盲元补偿算法的像元级ADC,避免了在算法级进行非均匀校正和盲元补偿的方式,降低了后续图像处理算法实现的难度,减少了图像处理算法消耗的资源.所提出的像元ADC基于64×64探测器阵列进行了红外焦平面读出芯片的设计,并采用40 nm CMOS工艺进行了流片,单个像元级ADC面积≤30μm×30μm,读出芯片面积约4.5 mm×4.5 mm.流片测试结果表示该像元ADC可实现非均匀校正与盲元补偿,非均匀校正范围可达到34％.

关键词：焦平面阵列、像元数模转换器、非均匀校正、盲元补偿

所属期刊栏目：51

分类号：TN219(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2021-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：938-943