红外焦平面读出电路成像重影问题的分析

摘要：

随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题.本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案.从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与读出电路的关系,并定位了重影问题的原因.

关键词：读出电路、重影问题、点光源测试、焦平面

所属期刊栏目：47

分类号：TN216(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2017-05-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：470-473