线列TDI型红外探测器组件坏元替代方法

摘要：

国产线列TDI型红外探测器组件在红外系统中的应用越来越广泛，但由于加工材料和制造工艺等因素的影响，探测器组件存在坏元，将造成图像质量下降，图像灰度分布失真，进而影响红外系统的性能。本文介绍了576×6线列TDI型红外探测器组件的读出电路坏元替代方法，采用该方法可进行线列TDI型红外探测器组件通道内的坏元替代，提高图像质量。

关键词：TDI、红外探测器、探测器盲元

分类号：TN214(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2015-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：809-813