10.3969/j.issn.1001-5078.2015.05.004
激光高阶回馈微位移测量系统设计及误差分析
设计了一套基于激光高阶回馈效应的微位移测量系统,介绍了其工作原理,给出了系统中光学单元、机械单元和信号处理及细分单元的设计方法及关键参数。对设计完成的测量系统与 PI 位移台进行了比对测试,实验结果表明系统的分辨率达到0.7 nm,并对测量系统进行了误差分析。激光高阶回馈微位移测量系统不但分辨率高,而且还具有结构简单和性价比高等优点,在精密位移测量中具有广泛的应用前景。
激光高阶回馈、微位移测量、误差分析
TN248.2(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金项目No.61405247资助。
2015-06-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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