10.3969/j.issn.1001-5078.2014.10.014
光纤宏弯损耗性能影响因素的仿真研究
为了优选宏弯损耗敏感光纤,研发基于光纤宏弯损耗的光学器件,对影响单模光纤宏弯损耗的主要因素进行了理论分析和仿真研究。基于D.Marcuse和H.Renner提出的光纤宏弯损耗理论模型,选取SMF28、SMF28e 和1060XP三种单模光纤,仿真研究了涂覆层、弯曲半径、光源波长、MAC值和弯曲圈数对光纤宏弯损耗性能的影响。结果表明:无涂覆层、带吸收层的单模光纤宏弯损耗随着波长增长而增大、随着弯曲半径增大而减小、随着圈数增多而增大、随着MAC值增大而增大;光纤的丙烯酸酯类涂覆层会引起宏弯损耗随弯曲半径变化发生振荡;MAC值是衡量光纤宏弯损耗敏感性能的指标,也是优选宏弯损耗敏感光纤的重要参数。因此,光纤宏弯损耗器件适合选用MAC值大的光纤,去除其涂覆层,增加吸收层,然后选择较长的波长、较小的弯曲半径和适当多的弯曲圈数。
宏弯损耗、涂覆层、弯曲半径、波长、MAC值、圈数
TN818;TN253(无线电设备、电信设备)
国家自然科学基金No.61067003;江西省自然科学基金项目No.20132BAB206024;江西省教育厅科技项目No.GJJ13064;高等学校博士学科点博导基金No.20123601110011;高等学校博士点新教师基金No.20103601120005资助项目。
2014-11-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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