一种表面发射率的测量方法研究

摘要：

大型实验设备由于表面温度难以控制而使其表面发射率精确测量较为困难。在分析表面发射率测量误差主要来源的基础上，提出一种表面发射率工程测量方法。分析并推导了到达探测器上的辐射量，利用两发射率已知的设备，实现了环境辐射量的测量，从而消除了环境辐射对表面发射率测量的影响，有效提高了测量精度。设计了实验方法并进行了发射率测量实验，实验结果表明未考虑环境辐射的测量方法与该方法的计算结果相对误差可达20.37％，验证了该测量方法的可行性和准确性。

关键词：发射率、红外热像仪、环境辐射

分类号：TN21(光电子技术、激光技术)

资助基金：总装预研基金No.51303040203资助。

在线出版日期：2014-03-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：152-157