下一代光刻技术的EUV光源收集系统的发展

摘要：

当前半导体器件加工水平正在向22 nm方向发展,而最有希望实现这一尺寸的光刻技术即为EUV光刻技术.EUV光源所发出的13.5 nm辐射因为波长极短,物质对其吸收十分强烈,所以使采用透射式光学系统对辐射进行收集的可能几乎为零.如何高效地收集EUV光源发出的辐射能成为了EUV光刻技术中的一大难题.本文主要介绍了国外在EUV光源收集系统方面的发展现状,描述了两大类EUV光源收集系统(垂直入射式和掠入射式)的一些设计形式和设计实例,并对各种设计形式的EUV收集系统进行了分析和比较.还重点介绍了目前被普遍看好的内嵌式掠入射WolterⅠ型收集系统的设计与加工等情况.

关键词：光刻、EUV、垂直入射式、掠入射式、收集效率、内嵌式、WolterⅠ型

所属期刊栏目：40

分类号：TN305.7(半导体技术)

在线出版日期：2011-03-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1163-1167