偏压等参数对光导PbS焦平面探测器性能的影响

摘要：

光导焦平面探测器的性能同其偏压及读出电路的工作参数密切相关.本文研究了采用CTIA型读出电路的1×128线列光导PbS焦平面探测器工作时,探测器偏压、积分时间和读出电路偏置电压对探测器信号、噪声及探测率的影响.实验结果表明:探测器信号、噪声及探测率均随探测器偏压增长而增加,存在一个最佳偏压3 V,使得探测器探测率达到最大;当超过此偏压后,信号电压增量减小,噪声电压增量增加;存在一个最佳积分时间50 μs,此时探测器探测率达到最大;存在一个可使用的读出电路偏置电压范围3.35～3.85 V,在此范围内,信号和噪声均随读出电路偏置电压的增加而减小,但探测器探测率基本不变.研究结果对寻找光导PbS焦平面探测器最佳工作条件具有指导意义.

关键词：IRFPA、光导、PbS、CTIA

所属期刊栏目：40

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2010-08-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：617-621