激光与PIN光电探测器相互作用的响应度研究

摘要：

通过比较短路电流的方法,标定了探测器对He-Ne激光的响应度.用Nd:YAG激光辐照PIN光电探测器,通过测量激光辐照后探测器对He-Ne激光的短路电流,获得了探测器响应度变化与辐照激光功率密度的关系.从实验数据可知,探测器被功率密度低于7.6×105W/cm2的Nd:YAG激光辐照后,不会发生损伤,激光辐照后,探测器对He-Ne激光的响应度不发生改变;当Nd:YAG激光的功率密度超过9.6×105W/cm2时,激光辐照后,探测器对He-Ne激光辐照的响应度开始下降,PN结遭到破坏是探测器响应度下降的根本原因,扫描电镜的结果与我们的分析相一致.

关键词：响应度、光电探测器、短路电流、激光辐照

所属期刊栏目：39

分类号：TN241(光电子技术、激光技术)

资助基金：国防预研基金项目A3620060122

在线出版日期：2009-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：717-720