320×240凝视型器件开窗功能在光谱测试中的应用

摘要：

正常工作模式下的单通道320×240凝视型器件帧周期较长,给红外焦平面器件光谱测试带来新的问题.文中利用320×240读出电路的开窗功能解决了这一问题,从而实现了凝视型320×240器件的光谱测试,并为今后更大规模阵列的测试提供了一种技术途径.

关键词：光谱测试、红外焦平面、开窗

所属期刊栏目：37

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2007-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：741-743