背照式GaN/AlGaN p-i-n紫外探测器的制备与性能
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10.3969/j.issn.1001-5078.2006.11.009

背照式GaN/AlGaN p-i-n紫外探测器的制备与性能

引用
文章研究了p-GaN/i-GaN/n-Al0.3Ga0.7N异质结背照式p-i-n可见盲紫外探测器的制备与性能.器件的响应区域为310~365nm,最大响应率为0.046A/W,对应的内量子效率为19%,优值因子R0A达到1.77×108Ω·cm2,相应的在363nm处的探测率D*=2.6×1012cmHz1/2W-1.

GaN/AlGaN、p-i-n、紫外探测器、响应率

36

TN23;TN304.2+6(光电子技术、激光技术)

2006-12-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1036-1039

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激光与红外

1001-5078

11-2436/TN

36

2006,36(11)

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