10.3969/j.issn.1001-5078.2002.02.016
Cd扩散对InSb晶体质量的影响
InSb材料在Cd扩散后于表面产生了密度较高的小浅坑,对小坑的成分进行了分析,并根据结果对小坑的成因作了初步的推断.实验发现坑中Cd浓度约44%.
InSb材料、Cd扩散、缺陷
32
TN204;TN206(光电子技术、激光技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
114-116
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10.3969/j.issn.1001-5078.2002.02.016
InSb材料、Cd扩散、缺陷
32
TN204;TN206(光电子技术、激光技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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