热像仪测量物体表面辐射率及误差分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-5078.2002.01.014

热像仪测量物体表面辐射率及误差分析

引用
根据红外辐射理论,通过分析红外热成像仪辐射测量的基本原理,得到了计算被测表面辐射率的计算公式;讨论了影响热像仪测量误差的各种因素,给出了估计表面辐射率误差的计算公式.最后,介绍了几种测量辐射率的有效方法.

红外热成像仪、辐射测量、误差分析

32

TN219;TH811.2(光电子技术、激光技术)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

43-45

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

激光与红外

1001-5078

11-2436/TN

32

2002,32(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn