半导体激光器失效机理与检测分析研究进展

摘要：

半导体激光器具有输出波长范围广、结构简单和易于集成等优势,广泛应用于医疗、传感、光学通讯、军事和航空航天等领域.随着应用需求不断增大,输出光功率不断提高,对激光器的可靠性提出了严峻的挑战.在回顾半导体激光器失效机理的基础上,分析光致发光技术、电致发光技术、阴极发光技术、红外热成像和微光显微镜5种有效的失效检测和分析手段,重点对有源区内部问题、腔面问题、焊接问题和操作环境问题的改善措施进行回顾和建议,为从事半导体激光器研究和生产的人员提供半导体激光器失效分析的依据.

关键词：激光技术、半导体激光器、失效机理、失效分析、激光器缺陷检测

所属期刊栏目：58

分类号：TN365(半导体技术)

资助基金：中兴通讯研究基金HC-CN-20200304002

在线出版日期：2021-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共13页

页码：37-49